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Produktportfolio
UV, NIR, SWIR und Polarisationskameras
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Ultraviolet (UV) Kameras

LX-Serie (LXT.UV-Kameras)

  • 8 MP und 172 fps
  • Sony IMX487 UV-Sensor mit 200–400 nm
  • 10 GigE High-Speed Schnittstelle
  • Empfohlen für unsichtbares Licht
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Near Wavelength Infrared (NIR) Kameras

LX-/CX-Serie (LXG.NIR-/VCXG.NIR-Kameras)

  • Bis 4 MP und 111 fps
  • onsemi PYTHON, ams CMV Sensoren mit 800–1000 nm
  • GigE Vision zur einfachen Integration
  • Empfohlen für unsichtbares Licht
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Short Wavelength Infrared (SWIR) Kameras

CX-Serie (VCXG.SWIR.XC-Kameras)

  • 1,3 MP und 71 fps
  • Sony SenSWIR Sensor IMX990 mit 400–1700 nm
  • GigE Vision zur einfachen Integration
  • Empfohlen für unsichtbares Licht
  • Dual Use Classification ECCN/AL: 6A003B
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Polarisationskameras

CX-Serie (VCX.MP-Kameras)

  • 5 MP und 76 fps
  • Sony Polarsens
  • GigE Vision oder USB3 Vision
  • Linearen Polarisationszustand komplett erfassen
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Unsichtbares inspizieren
Überblick Wellenlängenbereiche
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Sony IMX487 UV Sensor

Sony IMX487 UV Sensor mit 200–400 nm und 10 GigE High Speed Schnittstelle für besonders anspruchsvolle Applikationen

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Sony PolarSens Sensoren

Sony PolarSens Technologie zum Erfassen linearer Polarisationszustände, geeignet für transparente Materialien

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onsemi PYTHON, ams CMV Sensoren

onsemi PYTHON, ams CMV Sensoren mit 800–1000 nm und einfacher Integration durch GigE Schnittstelle

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Sony SenSWIR InGaAs Sensoren

Hohe Bandbreite und Sensitivität von 400–1700 nm im Bereich sichtbaren und unsichtbaren Lichts durch Sony SenSWIR InGaAs Sensoren
Dual Use Classification ECCN/AL: 6A003B

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  • Sony IMX487 UV Sensor
    • Sony IMX487 UV Sensor mit 200–400 nm und 10 GigE High Speed Schnittstelle für besonders anspruchsvolle Applikationen
  • Sony PolarSens Sensoren
    • Sony PolarSens Technologie zum Erfassen linearer Polarisationszustände, geeignet für transparente Materialien
  • onsemi PYTHON, ams CMV Sensoren
    • onsemi PYTHON, ams CMV Sensoren mit 800–1000 nm und  einfacher Integration durch GigE Schnittstelle
  • Sony SenSWIR InGaAs Sensoren
    • Hohe Bandbreite und Sensitivität von 400–1700 nm im Bereich sichtbaren und unsichtbaren Lichts durch Sony SenSWIR InGaAs Sensoren
    • Dual Use Classification ECCN/AL: 6A003B
Applikationsbeispiele
Beispiele UV (Ultraviolet)
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Sichtbares Licht (links) | UV 365 nm (rechts):

Inspektion von Metallwerkstoffen auf Schadstellen wie Kratzer, Einschläge etc.
Bilder: Sony Semiconductor Solutions Corporation

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Sichtbares Licht (links) | UV 365 nm (rechts):

Inspektion und Unterscheidung von transparenten Kunststoffmaterialien im Recyclingprozess

(1) PET (Polyethylenterephthalat)
(2) PC (Polycarbonat)
(3) PMMA (Polymethylmethacrylat; Acrylglas)
(4) PVC (Polyvinylchlorid)

Bilder: Sony Semiconductor Solutions Corporation

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Sichtbares Licht (links) | UV 365 nm (rechts):

Inspektion auf Fehlstellen von transparenter Harzbeschichtung in der Elektronikindustrie

(1) Mit Kunstharz-Beschichtung
(2) Ohne Kunstharz-Beschichtung

Bilder: Sony Semiconductor Solutions Corporation

Beispiele POL (Polarization)
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Monochromkamera (links) | Polarisationskamera (rechts):

Prüfung von Produktverpackung und -aufdrucken durch Unterdrückung von Reflexionen

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Monochromkamera (links) | Polarisationskamera (rechts):

Prüfung der Restspannung in Glas mittels Durchlicht

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Monochromkamera (links) | Polarisationskamera (rechts):

Inspektion der Lagen von Kohlefasergeweben (CFK) auf Position und Deformation

Beispiele SWIR (Short Wavelength Infrared)

ATTENTION: This product is subject to statutory export control regulations and may require written information on intended end use and final destination! Dual Use Classification ECCN/AL: 6A003B

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Sichtbares Licht (links) | SWIR 1300 nm (rechts):

Inspektion von Kaffeebohnen auf dunkle und für das menschliche Auge kaum sichtbare Fremdkörper (wie bspw. Steine)
Bilder: Sony Semiconductor Solutions Corporation

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Sichtbares Licht (links) | SWIR 1450 nm (rechts):

Inspektion von Obst wie bspw. Äpfel auf für das menschliche Auge unsichtbare Schadstellen
Bilder: Sony Semiconductor Solutions Corporation

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Sichtbares Licht (links) | SWIR 1550 nm (rechts):

Erkennen von für das menschliche Auge unsichtbaren Ausrichtungsmerkmalen zur Positionierung in der Waferproduktion
Bilder: Sony Semiconductor Solutions Corporation

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