Inspeccionar lo invisible con cámaras SWIR

Luz visible (izquierda) | SWIR 1300 nm (derecha):

Inspección de los granos de café para detectar cuerpos extraños oscuros apenas visibles para el ojo humano (como piedras)
Imágenes: Sony Semiconductor Solutions Corporation

Luz visible (izquierda) | SWIR 1450 nm (derecha):

Inspección de manzanas para detectar daños invisibles al ojo humano
Imágenes: Sony Semiconductor Solutions Corporation

Luz visible (izquierda) | SWIR 1550 nm (derecha):

Detección de características de alineación de posicionado invisibles al ojo humano en la producción de obleas
Imágenes: Sony Semiconductor Solutions Corporation

Ejemplo: identificación y detección fiables de zonas dañadas (por ejemplo, presión, podredumbre) para un control de calidad eficaz

Ejemplo: Posicionamiento e inspección de alta precisión de obleas a través de múltiples capas

Ejemplo: Identificación de contaminación y determinación de sustancias en diversos tipos de envases, como vidrio o plástico

Para evitar píxeles defectuosos y una baja corriente oscura es necesario que la temperatura del sensor sea lo más baja posible.

• Muy baja potencia absorbida (2,1 W@12 V)
• Caja más grande 36×36 mm
• Caja con refrigerador de aletas patentado para la disipación eficaz del calor

Para unos resultados perfectos: Corrección de píxeles integrada en el firmware de la cámara.

• Combinación de corrección estática y dinámica de píxeles defectuosos
  • La corrección estática corrige los mas comunes defectos de píxeles
  • La corrección dinámica corrige los píxeles defectuosos causados por diferentes configuraciones o condiciones 

Datos de imagen de alta precisión y ciclos de medición más rápidos gracias al circuito de refrigeración integrado.

• Baja temperatura de funcionamiento minimizando los píxeles defectuosos
• Evita el calentamiento de la óptica
• Reduce la deriva de píxeles al mínimo 
• Permite mediciones rápidas y de alta precisión tras encender
• Especialmente para instalación en espacios reducidos