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Product portfolio

UV, NIR, SWIR and polarization cameras

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Caméras à ultraviolets (UV)

Série LX (Caméras LXT.UV)

8 MP et 172 fps
Capteur UV Sony IMX487 avec 200-400 nm
Interface 10 GigE haut débit
Recommandé pour la lumière invisible

Au produit

Near Wavelength Infrared (NIR) cameras

UV, NIR, SWIR and polarization cameras

Up to 4 MP and 111 fps
onsemi PYTHON, ams CMV sensors with 800–1000 nm
GigE Vision for easy integration
Recommended for invisible light

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Caméras infrarouges à ondes courtes (SWIR)

Série CX (Caméras VCXG.SWIR.XC)

1,3 MP et 71 fps
Capteur Sony SenSWIR IMX990 avec 400–1700 nm
GigE Vision pour une intégration facile
Recommandé pour la lumière invisible
Dual Use Classification ECCN/AL: 6A003B

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Caméras de polarisation – Caméras polyvalentes pour des tâches de traitement d’images standard – Caméras Global Shutter – Caméras Rolling Shutter

Caméras de polarisation

Série CX (caméras VCX.MP)

5 MP et 76 fps
Sony Polarsens
GigE Vision ou USB3 Vision
Détecter complètement un état de polarisation linéaire

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Inspect the invisible

Overview wavelength ranges

Sony IMX487 UV sensor

Sony IMX487 UV sensor with 200–400 nm and 10 GigE high-speed interface for particularly demanding applications

Au produit

Sony PolarSens sensors

Sony PolarSens technology for detecting linear polarization states, suitable for transparent materials

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onsemi PYTHON, ams CMV sensors

onsemi PYTHON and ams CMV sensors with 800–1000 nm, easy integration via GigE Vision interface

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Sony SenSWIR InGaAs sensors

High bandwidth and sensitivity of 400–1700 nm in the visible and invisible light range thanks to Sony SenSWIR InGaAs sensors
Dual Use Classification ECCN/AL: 6A003B

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Sony IMX487 UV sensor
- Sony IMX487 UV sensor with 200-400 nm and 10 GigE high-speed interface for particularly demanding applications
Sony PolarSens sensors
- Sony PolarSens technology for detecting linear polarization states, suitable for transparent materials
onsemi PYTHON, ams CMV sensors
- onsemi PYTHON and ams CMV sensors with 800-1000 nm, easy integration via GigE Vision interface
Sony SenSWIR InGaAs sensors
- High bandwidth and sensitivity of 400-1700 nm in the visible and invisible light range thanks to Sony SenSWIR InGaAs sensors
  - Dual Use Classification ECCN/AL: 6A003B

Application Examples

Examples UV (Ultraviolet)

Lumière visible (à gauche) | UV 365 nm (à droite) :

Inspection des matériaux métalliques pour détecter les dommages telles que les rayures, les impacts, etc.
Images : Sony Semiconductor Solutions Corporation

Lumière visible (à gauche) | UV 365 nm (à droite) :

Inspection et distinction des matériaux plastiques transparents dans le process de recyclage

(1) PET (polyéthylène téréphtalate)
(2) PC (polycarbonate)
(3) PMMA (polyméthacrylate de méthyle ; verre acrylique)
(4) PVC (chlorure de polyvinyle)

Images : Sony Semiconductor Solutions Corporation

Lumière visible (à gauche) | UV 365 nm (à droite) :

Inspection des défauts d'un revêtement en résine transparente dans l'industrie électronique

(1) Avec revêtement en résine synthétique
(2) Sans revêtement en résine synthétique

Images : Sony Semiconductor Solutions Corporation

Examples POL (Polarization)

Monochrome camera (left) | Polarization camera (right):

Checking product packaging and imprints by suppressing reflections

Monochrome camera (left) | Polarization camera (right):

Inspection on residual stress (direction and degree) on glass using back light

Monochrome camera (left) | Polarization camera (right):

Inspections of the carbon fiber fabrics (CFRP) layers for position and deformation

Examples SWIR (Short Wavelength Infrared)

ATTENTION: This product is subject to statutory export control regulations and may require written information on intended end use and final destination! Dual Use Classification ECCN/AL: 6A003B

Lumière visible (à gauche) | SWIR 1300 nm (à droite) :

Inspection des grains de café pour détecter des corps étrangers peu visibles à l’œil nu (par exemple des pierres)
Images : Sony Semiconductor Solutions Corporation

Lumière visible (à gauche) | SWIR 1450 nm (à droite) :

Inspection des pommes, pour détecter des dommages invisibles à l’œil nu
Images : Sony Semiconductor Solutions Corporation

Lumière visible (à gauche) | SWIR 1550 nm (à droite) :

Vérification des caractéristiques d’alignement invisibles à l’œil nu dans la production de wafers
Images : Sony Semiconductor Solutions Corporation

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Brochure – Caméras industrielles performantes

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